Tag: iec 60730

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Checkerboard-Algorithmen und Alternativen für die Sicherheit

Laufzeitfehler in SRAMs finden

Sicherheitskritische Embedded-Anwendungen erfordern es, Hardware während ihrer Laufzeit zu testen. Im Fall von SRAMs können jedoch Abweichungen des logischen vom physikalischen Layout das Implementieren normkonformer Speichertests erschweren. Entwickler sollten alternative Methoden kennen, die immun gegen diese Unterschiede sind.

Henrik Nyholm, Jacob Lunn Lassen

5. December 2023